Прилад призначений для визначення кристалічної будови полікристалічних зразків та монокристалів методом розсіяння рентгенівського випромінювання.
Визначення фазового складу технологічних полікристалів (сталей, різноманітних сплавів, абразивів), спрямоване на їх атестацію і оптимізацію технології; кількісний фазовий аналіз синтезованих структур; визначення ступеню внутрішніх механічних напружень полікристалів та розчинності у різноманітних системах (наприклад,каталізаторах)
Джерело випромінювання: вузькофокусна рентгенівська трубка з мідним анодом
Максимальна робоча напруга: 30 кВ
Геометрія сканування: Брегга-Брентано
Дослідження монокристалів: модуль βz обертання
Дослідження з використанням рентгенівського дифрактометра є затребуваними в усіх технологічних сферах сучасної промисловості.