Мікроскоп призначений для отримання електронно-мікроскопічних зображень фактично будь яких зразків: від нанорозмірних структур до масивних зразків. Прилад оснащено SE, BSE, EDS детекторами, що дозволяють визначати мікроструктуру, склад та просторовий розподіл елементів в різноманітних зразках.
Вивчення мікроструктури технологічних зразків (бетонів, красок, конструктивних та антифрикційних сплавів) з метою їх атестації та оптимізації характеристик; визначення хімічного складу сорбентів, спрямоване на визначення ступеня небезпеки, залишкової сорбційної ємності та економічну доцільність їх переробки, дослідження імплантатів та медичного інструменту (зокрема, ендотоничного), дослідження бактеріальних культур, спрямоване на збільшення ефективності антибактеріальної обробки, вивчення аерогелей (в т.ч. і харчових) дослідження конструктивних виробів, спрямоване на пошук можливих мікродефектів.
Джерело електронів: вольфрамовий термокатод
Діапазон прискорюючої напруги: 0–30 кВ
Доступні детектори: SE, BSE, EDS (з можливісттю картування)
Тип EDS детектора: здвиговий кремнієвий безазотний детектор
Роздільна здатність: 3 нм (SE режим)
Дослідження діелектриків: можливість проведення досліджень діелектричних зразків забезпечується їх запиленням провідниковим шаром (за узгодженням з замовником для запилення використовують плівки вуглецю, хрому, золота)
Максимальні розміри зразків: 10*10*10 мм; 50*50*50 мм. Можливість дослідження зразків більших розмірів (до 500 мм) залежить від їх форми та визначається індивідуально.
Дослідження з використанням растрового електронного мікроскопа є затребуваними в усіх технологічних сферах: від харчової промисловості і медицини до сучасної електроніки, важкої промисловості і будівництва.