Центр колективного користування науковим обладнанням

Растровий електронний мікроскоп Jeol JSM-840

Призначення

Мікроскоп призначений для отримання електронно-мікроскопічних зображень фактично будь яких зразків: від нанорозмірних структур до масивних зразків. Зображення отримують в SE режимі

Приклади:

Вивчення мікроструктури зразків різної природи

Основні характеристики:

Джерело електронів: вольфрамовий термокатод
Діапазон прискорюючої напруги: 0–30 кВ
Роздільна здатність: 3 нм (SE режим)
Реєстрація зображень: повністю цифрова реєстрація
Дослідження діелектриків: можливість проведення досліджень діелектричних зразків забезпечується їх запиленням провідниковим шаром (за узгодженням з замовником для запилення використовують плівки вуглецю, хрому, золота)

Дослідження з використанням растрового електронного мікроскопа є затребуваними в усіх технологічних сферах: від харчової промисловості і медицини до сучасної електроніки, важкої промисловості і будівництва.

Для роботи з приладами надішліть заявку на адресу:

collective.use@karazin.ua
Корисні посилання